Дмитрий Соколов - Патентование изобретений в области высоких и нанотехнологий

1. Браун Н., Караламбоус П., Кудряшов В.А. Высоковольтная электроннолучевая нанолитография. Третий всесоюзный семинар. «Микролитография». – Черноголовка, 1990, с. 31.

2. Аристов В. В., Кислов Н.А., Николайчик В. И., Ход ос И. И. Нанолитография в РПЭМ. Третий всесоюзный семинар. «Микролитография». – Черноголовка, 1990, с. 35–36.

3. Патент US5122663. Compact integrated electron beam imaging system. 24.07.1991.

4. Заявка RU2004136940. Поликаналльный объектный столик для исследования микроорганизмов с помощью сканирующего электронного микроскопа JEOL JSM-35C.27.05.2006.

5. Патент RU2297947. Способ изготовления полупроводникового прибора с управляющим электродом нанометровой длины.22.05.2003.

6. Heuberger A., Betz Н. X-ray lithography using synchrotron radiation // SPIE. 1984. vol. 471. p. 221–230.

7. Заявка JP59-33742. Источник рентгеновского излучения. 28.09.82.

8. Заявка JP59-128747. Газоплазменный источник рентгеновского излучения.12.01.83.

9. Заявка JP60-22093. Рентгеношаблон. 05.11.85.

10. Заявка JP59-92531. Рентгеношаблон. 17.11.82

11. Патент US4513077. Electron beam or X-ray reactive imagel-formable resisnous composition. 13.06.83.

12. Нонотаки С. Электронные резисты и рентгенорезисты. – Денси дзеире, 1984, т. 23, № 8, с. 57–61.

13. А.С. СССР № 1354978. Система реперных знаков и способ совмещения рисунка шаблона с рисунком пластины. 06.03.1986.

14. А.С. СССР № 1385843. Система реперных знаков для совмещения шаблона с пластиной, способ совмещения шаблона с пластиной и устройство для совмещения шаблона с пластиной. 18.01.1986.

15. А.С. СССР № 1403839. Устройство для совмещения шаблона и подложки. 06.03.1986.

16. А.С. СССР № 1385843. Система реперных знаков для совмещения шаблона с пластиной, способ совмещения шаблона с пластиной и устройство для совмещения шаблона с пластиной. 18.01.1986.

17. Лаймен Д. Работы по созданию установки рентгеновской литографии. – Электроника, 1986, т. 59, № 6, с. 45–52.

18. Патент US5150392. X-ray mask conteining a cantivelevered tip for gap control and aligment. 09.09.1991.

19. Патент US5508527. Method of detecting positional displacement between mask and wafer,and exposure apparatus adopting the method. 09.01.1994.

20. Полнопольная рентгенолитографическая установка MX-15.– Дэнси дзеире, 1986, т. 58, № 25, с. 77–81.

21. Заявка JP60-208828. Установка для рентгеновского экспонирования. 02.04.1984.

22. А.С. СССР № 1578457. Интерферометр для измерения линейных перемещений. 08.01.1988.

23. А.С. СССР № 1578458. Интерферометр для измерения линейных перемещений. 08.01.1988.

24. АС. СССР № 1550457. Модулятор света. 08.01.1988.

25. АС. СССР № 1823045. Разъем. 06.02.1991.

Сначала нанотехнологии стали использовать в высокотехнологичных устройствах и процессах, но через некоторое время они перешли в область обычных технологий и бытовые приборы.

При патентовании таких решений есть свои особенности. В том случае, если нанопризнаки кардинально улучшают характеристики устройства, то их присутствие в независимом пункте формулы изобретения уместно. При этом не лишним будет привести литературные ссылки с подробным описанием этих признаков, чтобы эксперту, не специализирующемуся в области высоких технологий, было проще разобраться в сущности устройства. Однако, если разработка и так самодостаточна без использования нанопризнаков, то нет необходимости (например, ради рекламы) вводить их в независимый пункт формулы изобретения. Иначе конкуренты не совсем обязательный нанопризнак могут не использовать и выйти из под действия такого патента.

Проиллюстрируем это на следующем примере. В патенте [1] описана электродуговая плазменная горелка, которая в качестве основных блоков содержит сопло 1 (рис. 5.1) и камеру для хранения рабочей жидкости, состоящую из первого 2 и второго 3 резервуаров. При разработке этого устройства выяснилось, что использование супертонкого базальтового волокна 4 в первом резервуаре 2 существенно увеличивает срок эксплуатации. При этом во втором резервуаре может быть практически любой влагопоглотитель 5.

Рис. 5.1.Электродуговая плазменная горелка: 1 – сопло; 2 – первый резервуар; 3 – второй резервуар; 4 – супертонкое базальтовое волокно; 5 – влагопоглотитель

Это связано с тем, что сопло 1 нагревается во время работы и обыкновенный влагопоглотитель, расположенный вокруг него, испытывал бы перегрев и быстро выходил из строя. Это привело бы к ухудшению распределения жидкости по нему и, соответственно, к ухудшению работы горелки вплоть до выхода ее из строя. Применение супертонкого базальтового волокна обеспечивает равномерное распределение жидкости в зоне сопла 1, при этом термостойкость базальта, как основы волокна, намного превышает этот параметр для других материалов. Однако этот признак не был введен в независимый пункт формулы изобретения, так как не исключено, что в будущем будет изобретен более термостойкий материал. Даже если на решение с использованием нового материала в горелке будет получен патент, то применение его в описанной конструкции приведет к использованию всех признаков независимого пункта формулы изобретения и, соответственно, к использованию самого патента. Это позволит претендовать авторам первичного патента на часть прибыли от продажи горелки с новым термостойким материалом. При наличии супертонкого базальтового волокна в независимом пункте формулы его замена привела бы к выходу из под действия первичного патента.

Следующий пример представлен в патенте [2], где защищена «Ценная бумага». Здесь используется защитная нить из полиэстера толщиной 27–33 нм. Данный признак несомненно влияет на долговечность ценной бумаги. Однако он совершенно обоснованно выведен в зависимый пункт формулы изобретения, так как в независимом пункте формулы присутствует достаточное количество отличительных признаков изобретения, обеспечивающих его новизну и изобретательский уровень, таких, как волокна чистого хлопка, флуоресцентные волокна, объемный водяной знак.

И последний пример касается голографической наклейки [3], в которой покрытие выполнено из прозрачного материала. При этом толщина этого покрытия, изготовленного из селенида галлия, находится в пределах 20—140 нм. Здесь также вполне обоснованно эти параметры не внесены в независимый пункт формулы изобретения, чтобы не было возможности, слегка изменив толщину покрытия относительно указанных цифр, выйти из-под действия этого патента.

Таким образом, если при патентовании обычных изделий нет особой необходимости вносить нанопризнаки в независимый пункт формулы изобретения, то лучше этого не делать, чтобы не ограничивать объем притязаний таких изобретений.

\

Литература

1. Патент RU2343649. Электродуговая плазменная горелка. 12.07.2007.